National Instruments (Nasdaq: NATI) stellte am 04. August das Wireless Test System (WTS) vor, eine Lösung, mit der die Kosten für Produktionstests von Mobilfunkgeräten in der Großserienfertigung deutlich gesenkt werden. Trotz zunehmender Komplexität der Tests von Mobilfunkgeräten können Unternehmen die Testkosten ohne weiteres reduzieren und den Durchsatz in der Produktion vervielfachen. Dies wird durch den Einsatz von Systemen möglich, die für Messgeschwindigkeit und paralleles Testen optimiert sind.

„Megatrends wie das Internet der Dinge (Internet of Things, IoT) werden dazu führen, dass in mehr und mehr Geräten RF- und Sensorfunktionalität enthalten sein wird, deren Test bisher kostenaufwendig war. Doch die Testkosten sollten nicht die Innovationen oder die Wirtschaftlichkeit eines Produkts begrenzen“, erklärt Olga Shapiro, Program Manager for Measurement and Instrumentation bei Frost & Sullivan.

Auf Basis der neuesten Hardwareentwicklungen der PXI-Plattform bietet das WTS eine durchgängige Plattform für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge mit jeweils einem oder mehreren Anschlüssen. Zusammen mit flexibler Software zur Entwicklung von Testplänen wie dem TestStand Wireless Test Module können Hersteller die Auslastung ihrer Messgeräte wesentlich verbessern, indem sie mehrere Prüflinge parallel testen. Aufgrund dieser Besonderheiten verzeichnen Anwender beträchtliche Effizienzsteigerungen bei der Nutzung ihrer RF-Prüfgeräte und weitere Senkungen der Testkosten.

Das WTS ist das neueste System von NI, das auf der PXI-Hardwareplattform und der Software LabVIEW sowie TestStand basiert. Es unterstützt Funkstandards von LTE Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth Low Energy und ist für Produktionstests von WLAN Access Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die z. B. Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind. 

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