Hochgeschwindigkeits-Oszilloskop zum Messen hoher Spannungen

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt heute das Oszilloskop PXIe-5164 vor. Das PXIe-5164 basiert auf der offenen, modularen PXI-Architektur und beinhaltet einen programmierbaren FPGA. Es eignet sich insbesondere für das Messen hoher Spannungen mit einer hohen Genauigkeit bei Anwendungen aus den Bereichen Luft- und Raumfahrt, Halbleitertechnik sowie Forschung und Physik.

Das PXIe-5164 bietet folgende Funktionen:

  • Zwei 14-bit-Kanäle mit einer Abtastrate von 1 GS/s und 400 MHz Bandbreite
  • Zwei Kanäle mit einem Spannungseingangsbereich von bis zu 100 Vpp CAT II und programmierbarer Offset-Funktion für Messungen bis ± 250 V
  • Bis zu 34 Kanäle in einem einzelnen kompakten PXI-Chassis für die Erstellung paralleler Messsysteme mit hoher Kanaldichte
  • Eine Streaming-Datenrate von 3,2 GB/s über 8 PCI-Express-Leitungen (Lanes) der 2. Generation
  • Ein mit LabVIEW programmierbarer Kintex-7-410-FPGA von Xilinx zur Erstellung von benutzerspezifischem IP, u. a. Filter und Trigger (Inline Processing)

PXI-Oszilloskope bieten die gleiche einfache Handhabung, die Anwender von Stand-alone-Oszilloskopen gewöhnt sind. Über die interaktiven Softfrontpanel des mitgelieferten Treibers NI-SCOPE lassen sich beispielsweise einfache Messungen durchführen, automatisierte Anwendungen auf Fehler untersuchen und erfasste Oszilloskopdaten anzeigen, während das Prüfprogramm läuft. Der Treiber umfasst zudem Hilfedateien, Dokumentation und sofort ablauffähige Beispielprogramme, die Anwender bei der Entwicklung von Prüfcode unterstützen. Ferner stellt der Treiber eine Programmierschnittstelle zur Verfügung, die mit verschiedenen Entwicklungsumgebungen kompatibel ist, u. a. C, Microsoft .NET und der Systemdesignsoftware LabVIEW. PXI-Oszilloskope können auch mit der Testmanagementsoftware TestStand eingesetzt werden, um die Entwicklung und den Einsatz von Prüfsystemen im Labor oder in der Produktion zu vereinfachen.

PXI-Oszilloskope sind ein integraler Bestandteil der NI-Plattform, die Anwendern das Erstellen intelligenterer Prüfsysteme ermöglicht.

Die Plattform umfasst mehr als 600 PXI-Produkte – von DC bis zum mm-Wellen-Bereich –, die durchsatzstarke Datenübertragungen über PCI-Express-Schnittstellen unterstützen. Darüber hinaus ermöglichen sie Synchronisierungen im Sub-Nanosekundenbereich und bieten integrierte Timing- und Triggerfunktionen. In Kombination mit einem dynamischen Ökosystem aus Partnern, zusätzlichem IP und technischem Support durch Applikationsingenieure können Anwender mit der NI-Plattform ihre Prüfkosten weiter senken, Markteinführungen beschleunigen und ihre Prüfsysteme schon jetzt auf die Anforderungen von morgen vorbereiten.

National Instruments bietet auch ein Whitepaper an, das weitere Informationen bereithält.

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